Faz Kontrast Mikroskobunun Çalışma Prensibi (Figürlü)

Faz Kontrast Mikroskobunun Çalışma Prensibi (Figürlü)!

Bir nesneden biraz farklı kırılma indisi veya kalınlığına sahip başka bir nesneye geçen ışık fazda bir değişikliğe uğrar.

Bir faz kontrast mikroskobunda, fazdaki bu fark görüntünün parlaklığındaki varyasyona dönüştürülür ve bu nedenle gözle tespit edilebilir. Faz kontrast mikroskobu ile, farklı kırılma indislerine veya kalınlıklarına sahip çeşitli hücreler arasındaki farklılıklar kararsız durumda görülebilir.

Mikroskopik nesneler, nesnenin kırılma endeksindeki ve etrafındaki ortamın farklılığından dolayı, durgun durumda görülebilir. Kırılma endekslerinde veya kalınlıklarındaki küçük farklılıklar nedeniyle, diğer mikroskobik yöntemlerle ayırt edilemeyen hücrelerdeki boyanmamış yapılar da gözlenebilir.

Faz kontrast mikroskobu, faz kontrast kondansatörü ve faz kontrast hedefi ile donatılmış bir bileşik mikroskoptur (Şekil 4.12). Alt kademeli kondanserin odak düzlemine yerleştirilen diyaframdaki halka şeklindeki bir açıklık nesnenin aydınlatmasını kontrol eder.

Açıklığın görüntüsü, hedefin arka odak düzleminde oluşturulur. Bu düzlemde, bir faz kaydırma elemanı veya faz plakası vardır. Faz plakası ayrıca içinden geçen ışığın dalga boyunu artırabilen halka şeklinde bir faz değiştirme düzenine sahiptir.

Halka şeklindeki kondansatör açıklığından gelen ışık nesneden geçer. Nesne tarafından sapmayan bu ışınlar (şekildeki katı çizgiler), faz plakasının faz değiştirme düzeninden geçer ve daha uzun dalga boyu elde eder.

Nesne yapıları (şekildeki kesik çizgiler) tarafından farklı kırılma indeksleri nedeniyle sapma yapan ışınlar, faz değiştirme modeli ile kaplanmayan faz plakasından geçer. Böylece, dalga boyları değişmeden kalır. Fazdaki fark (dalga boyu) nesnenin net bir şekilde görülebilmesi için kontrast verir.